芯片電阻ASTM D3170
已有人閱讀此文 - -涂層耐磨性(密度計(jì))ASTM D3170,SAE J400
適用范圍:
刻度盤設(shè)計(jì)用于評(píng)估表面涂層(油漆,透明涂層,金屬電鍍等)對(duì)礫石或其他飛行物體的沖擊造成的破碎的阻力。該測(cè)試的主要用途是模擬礫石或其他碎屑對(duì)汽車零件的影響。
測(cè)試程序:
將測(cè)試樣品安裝在Gravelometer的背面,使用空氣壓力在樣品上投射1品脫(約300片)碎石。然后取出測(cè)試樣品,用干凈的布輕輕擦拭。然后將膠帶施加到整個(gè)測(cè)試表面。然后取出膠帶然后拉出涂層的任何松散碎片。然后將測(cè)試樣品的外觀與SAE提供的標(biāo)準(zhǔn)透明膠片進(jìn)行比較,以確定切屑等級(jí)。也可以使用目視檢查來(lái)描述涂層/襯底系統(tǒng)中導(dǎo)致失效的位置。
樣品尺寸:
涂層4英寸×12英寸面板
數(shù)據(jù):
切片等級(jí)由一個(gè)或多個(gè)字母數(shù)字組合組成。該字母表示正在計(jì)數(shù)的芯片尺寸,該數(shù)字表示該芯片尺寸的芯片數(shù)量。例如,B6表示尺寸為1至3mm的10-24個(gè)芯片。故障點(diǎn)描述了主要故障發(fā)生的涂層 - 例如P / T表明故障點(diǎn)位于底漆和頂涂層之間。